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對抗靜電放電,ESD防護器件該如何選擇?
對抗靜電放電,ESD防護器件該如何選擇?

ESD (Electro-Static Discharge,靜電放電)可能導致元器件內部線路受損,直接影響產品的正常使用壽命,甚至造成產品的損壞。因此,ESD防護一直以來都是工程師們的工作重點。

靜電放電現象在我們的日常生活中很常見,但對于電子產品而言卻是足以致命的,因此,做好ESD防護十分重要,而為保證整個系統有較好的ESD防護能力,外部ESD保護器件是必不可少的。面對市場上眾多的ESD防護器件,工程師該如何針對應用的不同進行選擇呢?詳細閱讀>>

干貨"title="干貨" 干貨

ESD防護對我們常用的電子消費類終端產品尤為重要。而冬天人體產生的靜電非常強烈而且頻繁,當我們接觸手機、數碼相機或MP3等手持電子設備時,靜電常常通過人體引入電子設備中;如果沒有專門的靜電防護,輕則引起芯片復位、數據丟失、關機等現象,重則擊穿芯片造成永久性破壞,給我們的日常生活帶來不必要的麻煩和經濟上的損失!因此為保證整個系統有較好的ESD防護能力,外部ESD防護器件是必不可少的。

防護觸控面板的靜電放電策略

防護觸控面板的靜電放電策略

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隨著人機介面的進步,觸控介面已逐步在生活中占了一席之地。產品的輕薄短小,使得生活中的電子設備變成了隨身必備品。在產品中各式積體電路集縮在極小的空間中,在產品的設計及量產流程上,需面臨各種生產環境的試鏈;而人類生活的環境千變萬化,這些人機介面必需有極高的可靠度,才能滿足在各種環境、甚至是嚴苛操作條件下的操作。詳細閱讀>>

靜電放電抗擾度對手機的影響

靜電放電抗擾度對手機的影響

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手機是無線通信產品中應用最廣泛、最貼近生活的數字蜂窩通信產品。為保證手機的電磁兼容性能,解決手機的電磁兼容問題,使得手機的電磁兼容測試顯得越來越重要。本文介紹了手機靜電放電測試的要求和方法, 總結分析了手機靜電放電抗擾度試驗的主要失效現象和模式, 可供手機靜電放電抗擾度試驗及提高手機抗靜電能力設計時參考。詳細閱讀>>

靜電放電抗擾度試驗

靜電放電抗擾度試驗

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關于不接地設備的試驗配置,新版標準與舊版標準的配置是相同的。關鍵是在單次放電時(無論是空氣的,還是接觸的),試品上的電荷應當在每次施加靜電放電脈沖之前先行釋放(釋放掉在需要施加靜電放電的金屬點或金屬部位上的電荷)。詳細閱讀>>

靜電放電保護

靜電放電保護

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為此防范危險的最好保護方法首先應了解危險的性質,以及它對系統的損害方式。通過靜電電位傳感器“EP傳感器”的測量與生產現場應采取怎樣的除靜電措施來實施電子產品的靜電放電保護,這就是本文研討的思路與重點。首先對半導體器件的靜電破壞模式作闡述。詳細閱讀>>

靜電放電保護時怎樣維持USB信號完整性

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靜電放電保護時怎樣維持USB信號完整性

隨著常見文件的大小持續增加,高數據率也變得越來越重要。在這種等級的數據率,為數據線路增加任何電容都可能造成信號波形失真,導致數字數據傳輸的中斷和/或故障。這就對USB2.0接口上使用的靜電放電(ESD)保護器件提出了更高的要求。ESD保護器件在正常數據傳輸期間必須對信號保持透明狀態,而在系統級ESD兼容性測試或應用現場中遭受實際ESD事件時,必須使受保護對象免受損傷或干擾。如今,設計人員面對著需要找到合適的ESD保護解決方案,既能保護敏感線路,又不增加會導致信號質量降低的電容的挑戰。詳細閱讀>>

手機電磁兼容測試之靜電放電抗擾度試驗

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手機電磁兼容測試之靜電放電抗擾度試驗

本文針對手機電磁兼容測試的靜電放電抗擾度試驗中經常發現的問題進行了分析,并提出了相應的改善手機電磁兼容性能的建議。詳細閱讀>>

基礎知識 基礎知識
靜電放電干擾及其抑制

靜電放電干擾及其抑制

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靜電的產生是因為不同物質的物體互相摩擦時,正負電荷分別積蓄在兩種物體上。例如,化纖衣物的摩擦引起的靜電,當它們與其他系統接觸時便會放電形成靜電放電干擾。其放電電壓可高達2—30kV。實驗證明,人體所帶的靜電一般為10V—15kV。詳細閱讀>>

靜電放電防護的基本原理和原則

靜電放電防護的基本原理和原則

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靜電放電(Electrostatic Discharge,ESD)指處于不同靜電電位的兩個物體間的靜電電荷的轉移就是靜電放電。這種轉移的方式有多種,如接觸放電、空氣放電。靜電放電的危害有很多,如何才能有效的防護靜電放電?詳細閱讀>>

EMC靜電放電測試與預防

EMC靜電放電測試與預防

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本文先引用EMC標準IEC61000-4-2中靜電放電測試標準中的測試要求,測試原理,測試方法,再介紹常見的產品標準中對電子產品的靜電放電要求主要講的是靜電放電對電子產品的影響,以及一些基本的靜電放電抗擾度的預防措施...詳細閱讀>>

當今在電子產品設計與制造過程中,人們很關心的是如何迸行電子產品的靜電放電保護。因為它是提高產品的耐受性并關系影響整個電子工業長期發展的重要問題,所以靜電破壞與促使靜電放電(ESD)保護己顯得日益重要。這是因為隨著近來零件小型化和半導體高集成化趨勢,其靜電放電而引起的電路或器件的靜電破壞已成為一大隱患的技術問題。

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